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产品型号：SX1934B型数字式四探针测试计

产品说明

SX1934B型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，适用于半导体、太阳能行业的筛选。

产品特点

仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零)

产品外观

详细参数

型号	SX1934B
测量范围	电阻率：10^-2～10²Ω-cm；方块电阻：10^-1～10³Ω/□；电阻：10^-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸	直径：Φ15～100mm；长（或高）度： ≤400mm
电源	功耗：<1W；电源适配器：输入:220V±10% 50Hz；输出:DC5V±10%
外形尺寸	主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）

典型用户

清华大学

重庆大学

江苏顺大半导体有限公司

北京大学

黑龙江大学

天津中环半导体股份有限公司

上海交大

兰州大学

金华美晶硅电子有限公司

华东理工大学

江西赛维LDK太阳能高科技有限公司

中国振华集团

大连理工大学

无锡尚德太阳能电力有限公司

中电四十六所

成都电子科大

宁波太阳能电源有限公司

大连化工物理所

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