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产品型号:SX1944型数字式四探针测试计
 
产品说明
     四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。  
 
产品特点
    四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。  
  仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
 
产品外观
 
 
详细参数
型号
SX1944
测量范围
电阻率:10-4~105Ω-cm 方块电阻:10-3~106Ω/□ 电阻:10-4~105Ω
可测半导体材料尺寸
直径:Φ15~100mm
测量方位
轴向、径向均可
数字电压表
⑴量程: 200mV
⑵误差:± 0.1% 读数± 2 字
⑶最大分辨力:10μV
显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示
数控恒流源
⑴电流输出:直流电流 0 ~ 100mA 连续可调,由交流电源供电。
⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA
⑶误差:± 0.5% 读数± 2 字
四探针测试探头
⑴探 针 间 距: 1mm
⑵探针机械游移率: ± 1.0%
⑶探 针: 碳化钨,Φ 0.5mm
⑷压 力: 0 ~ 2kg 可调 , 最大压力约 2kg
电源

输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W

外形尺寸
主机 260mm (长)× 210 mm (宽)× 125mm (高)
备注
USB 接口,配软件
 
   
典型用户
 
清华大学
重庆大学
江苏顺大半导体有限公司
北京大学
黑龙江大学
天津中环半导体股份有限公司
上海交大
兰州大学
金华美晶硅电子有限公司
华东理工大学
江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
中国振华集团
大连理工大学
无锡尚德太阳能电力有限公司
中电四十六所
成都电子科大
宁波太阳能电源有限公司
大连化工物理所
 
 
 
 
 
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